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HemiView数字植物冠层分析系统
HemiView数字植物冠层分析系统名称:数字植物冠层分析系统 型号:HemiView 产地:英国用途:HemiView数字植物冠层分析系统通过处理影像数据文件来获取
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HEMIDIG 数字植物冠层分析系统
仪器简介:HemiView 通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的,例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息,HemiView 能够测算出冠层截获的PAR
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AccuPAR LP-80植物冠层分析仪
AccuPAR LP-80植物冠层分析仪名称:植物冠层分析仪 型号:AccuPAR LP-80 产地:美国用途:AccuPAR LP-80植物冠层分析仪可以测量评估
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DJ-3200数字植物冠层分析系统
DJ-3200数字植物冠层分析系统通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的,例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布等。
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WinSCANOPY植物冠层分析系统
仪器简介:WinSCANOPY 是一套便携式的数字植物冠层分析系统。可测量叶面积指数、太阳辐射通量、辐射标准、冠层大小及位置、冠层分布、测点因数、透光面积等参数。 它是利用高分辨率专业
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SUNSCAN植物冠层分析系统
Ellipsoidal LAD equations),使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。技术参数:SunScan探测器 ·探测器光谱响应:400
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植物冠层分析仪
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植物冠层分析仪
植物冠层分析仪仪器型号:TOP-1000型 仪器用途: 可广泛应用于农业生产和农业科研,为进行冠层光能资源调查,测量植物冠层中光线的拦截,研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系,本仪器
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SunScan植物冠层分析仪
SunScanSunScan植物冠层分析仪是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射(PAR)的系统,提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI
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植物冠层图像分析仪
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